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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 17 条相关能力。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：绝缘电阻测试、温度循环、密封、老炼试验、外部目检、粒子碰撞噪声检测试验、稳定性烘焙
检测对象：电工电子产品
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：绝缘电阻测试、温度循环、密封、老炼试验、外部目检、粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：电工电子产品
GB/T 15651.3-2003
半导体器件分立器件和集成电路 第5-3部分： 光电子器件测试方法
检测项目：电流传输比、集电极-发射极饱和电压
检测对象：光电耦合器
半导体光电子器件筛选与验收通用条件 GJB 5018-2001
半导体光电子器件筛选与验收通用条件 GJB 5018-2001
检测项目：老炼试验
检测对象：电工电子产品
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：稳定性烘焙
检测对象：电工电子产品