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2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 178 条能力记录。
按标准归类为 23 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、交叉调整率、输入电流、效率 等 12 项，点击展开全部
检测对象：DC/DC电源模块
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 第IV篇 第2节
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、输入失调电压、共模抑制比、电源电压抑制比、开环电压增益、输出峰峰电压、输出电压转换速率
检测对象：模拟集成电路
电源滤波器通用规范 GJB 10171-2021
电源滤波器通用规范 GJB 10171-2021
检测项目：电容量、电感量、泄漏电流、介质耐电压、绝缘电阻、插入损耗、直流电阻、电压降
检测对象：滤波器
GB/T6798-1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、输入失调电压、共模抑制比、电源电压抑制比、开环电压增益、输出峰峰电压
检测对象：模拟集成电路
射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015
射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015
检测项目：电容量、介质耐电压、绝缘电阻、插入损耗、直流电阻、电压降
检测对象：滤波器
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇第2节
检测项目：输出低电平电压、延迟时间、转换时间、功能测试、输出高电平电压
检测对象：数字集成电路
GB/T 6346.1-2024
电子设备用固定电容器 第1部分：总规范
检测项目：绝缘电阻、耐电压、电容量、损耗角正切和等效串联电阻、漏电流
检测对象：固定电容器
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：高温寿命（非工作）、密封性检测、温度循环、粒子碰撞噪声检测、外部目检
检测对象：半导体分立器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目：高温寿命（非工作）、密封性检测、温度循环、粒子碰撞噪声检测、外部目检
检测对象：半导体分立器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：稳定性烘焙、密封性检测、温度循环、粒子碰撞噪声检测、外部目检
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：稳定性烘焙、密封性检测、温度循环、粒子碰撞噪声检测、外部目检
检测对象：微电子器件
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：密封性检测、温度循环、老炼试验、粒子碰撞噪声检测、接触电阻
检测对象：元件
检测对象：连接器
电连接器试验方法 GJB1217A-2009 方法
电连接器试验方法 GJB1217A-2009 方法
检测项目：介质耐电压、接触电阻、低电平接触电阻、绝缘电阻、外壳间导电性
检测对象：连接器
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：电容量、介质耐电压、绝缘电阻、直流电阻
检测对象：滤波器
检测对象：连接器
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002
检测项目：电感值、Q值、直流电阻
检测对象：射频固定电感器
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法
检测项目：稳定性烘焙、温度循环、外部目检
检测对象：微电子器件
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038、1039、1040、
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038、1039、1040、
检测项目：老炼试验
检测对象：半导体分立器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1038、1039、1040、
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1038、1039、1040、
检测项目：老炼试验
检测对象：半导体分立器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、
检测项目：老炼试验
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、
检测项目：老炼试验
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法1005.9、
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法1005.9、
检测项目：老炼试验
检测对象：微电子器件
射频同轴连接器通用规范 GJB 681B-2021
射频同轴连接器通用规范 GJB 681B-2021
检测项目：接触电阻
检测对象：连接器
GB/T14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
检测项目：输出电压转换速率
检测对象：模拟集成电路