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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 24 条相关能力。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T15651-1995
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
检测项目：输入二极管正向电压、输入二极管反向电流、集电极-发射极暗电流、集电极-基极暗电流、集电极-发射极饱和电压、电流传输比、开通时间、关断时间
检测对象：光电耦合器（光电子器件）
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：稳定性烘焙、密封性检测、温度循环、粒子碰撞噪声检测、外部目检
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：稳定性烘焙、密封性检测、温度循环、粒子碰撞噪声检测、外部目检
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法
检测项目：稳定性烘焙、温度循环、外部目检
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、
检测项目：老炼试验
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、
检测项目：老炼试验
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法1005.9、
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法1005.9、
检测项目：老炼试验
检测对象：微电子器件