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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 83 条相关能力。
按标准归类为 30 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：温度循环、密封、芯片剪切强度（芯片粘附强度）、引线牢固性、恒定 加速度、可焊性、耐溶剂性、稳态寿命 等 27 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：芯片剪切强度（芯片粘附强度）、引线牢固性、恒定 加速度、可焊性、稳态寿命、耐溶剂性、绝缘电阻、静电放电敏感度 等 23 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法
检测项目：绝缘电阻、静电放电敏感度、外部目检、物理尺寸、间歇寿命
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法
检测项目：耐湿（交变）、稳定性烘培
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1014.2的A和C
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1014.2的A和C
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1014A的A和C
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1014A的A和C
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2019A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2019A
检测项目：芯片剪切强度（芯片粘附强度）
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2004A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2004A
检测项目：引线牢固性
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2001A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2001A
检测项目：恒定 加速度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1005A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1005A
检测项目：稳态寿命
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2003A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2003A
检测项目：可焊性
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2015A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2015A
检测项目：耐溶剂性
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2025A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2025A
检测项目：引线涂覆附着力
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2012A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2012A
检测项目：X射线照相
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1015A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1015A
检测项目：老炼
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2010A、2013、2014、2017A、
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2010A、2013、2014、2017A、
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2010.1、2013、2014、2017.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2010.1、2013、2014、2017.1、
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2010.2、2013、2014、2017.2，
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2010.2、2013、2014、2017.2，
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1011A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1011A
检测项目：热冲击（液体介质）
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1009A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1009A
检测项目：盐雾 （腐蚀）
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2002A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2002A
检测项目：机械冲击
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A 方法1010A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A 方法1010A
检测项目：温度循环
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法1004A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法1004A
检测项目：耐湿（交变）
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法1008A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法1008A
检测项目：稳定性烘培
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2005、2006、2007、
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2005、2006、2007、
检测项目：振动试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2005、2006、2007、
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2005、2006、2007、
检测项目：振动试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2005.1、2006、2007、
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2005.1、2006、2007、
检测项目：振动试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1001A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1001A
检测项目：低气压
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2020A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2020A
检测项目：粒子碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2011A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2011A
检测项目：键合强度
检测对象：电子元器件