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北京航天光华电子技术有限公司检测试验中心

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地址:北京市海淀区永定路51号(1区)9-9

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前展示该机构前 100 条能力;该机构共 201 条能力记录。

按标准归类为 21 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

QJ831B-2011

航天用多层印制电路板通用规范

20 项检测项目

检测项目:外观、基本尺寸和特征、弓曲和扭曲、表面导体剥离强度、非支撑孔焊盘拉脱强度、表面安装焊盘拉脱强度、镀层附着力、模拟返工、表面镀层可焊性 等 20 项,点击展开全部

检测对象:印制板

外观、基本尺寸和特征弓曲和扭曲表面导体剥离强度非支撑孔焊盘拉脱强度表面安装焊盘拉脱强度镀层附着力模拟返工表面镀层可焊性镀覆孔可焊性热应力阻焊膜固化及附着力耐热油性吸湿性耐溶剂性绝缘电阻抗电强度(介质耐电压)电路的导通镀覆孔(金属化孔)电阻互连电阻电路的短路

QJ832B-2011

航天用多层印制电路板试验方法

19 项检测项目

检测项目:外观、基本尺寸和特征、弓曲和扭曲、表面导体剥离强度、非支撑孔焊盘拉脱强度、表面安装焊盘拉脱强度、镀层附着力、模拟返工、表面镀层可焊性 等 19 项,点击展开全部

检测对象:印制板

外观、基本尺寸和特征弓曲和扭曲表面导体剥离强度非支撑孔焊盘拉脱强度表面安装焊盘拉脱强度镀层附着力模拟返工表面镀层可焊性镀覆孔可焊性热应力阻焊膜固化及附着力耐热油性吸湿性耐溶剂性绝缘电阻抗电强度(介质耐电压)电路的导通镀覆孔(金属化孔)电阻互连电阻

QJ201B-2012

航天用刚性单双面印制电路板规范

19 项检测项目

检测项目:外观、基本尺寸和特征、弓曲和扭曲、表面导体剥离强度、非支撑孔焊盘拉脱强度、表面安装焊盘拉脱强度、镀层附着力、模拟返工、表面镀层可焊性 等 19 项,点击展开全部

检测对象:印制板

外观、基本尺寸和特征弓曲和扭曲表面导体剥离强度非支撑孔焊盘拉脱强度表面安装焊盘拉脱强度镀层附着力模拟返工表面镀层可焊性镀覆孔可焊性热应力阻焊膜固化及附着力耐热油性吸湿性耐溶剂性绝缘电阻抗电强度(介质耐电压)电路的导通镀覆孔(金属化孔)电阻互连电阻

QJ519B-2021

航天印制电路板试验方法

16 项检测项目

检测项目:外观、基本尺寸和特征、弓曲和扭曲、表面导体剥离强度、非支撑孔焊盘拉脱强度、镀层附着力、模拟返工、表面镀层可焊性、镀覆孔可焊性 等 16 项,点击展开全部

检测对象:印制板

外观、基本尺寸和特征弓曲和扭曲表面导体剥离强度非支撑孔焊盘拉脱强度镀层附着力模拟返工表面镀层可焊性镀覆孔可焊性热应力耐热油性耐溶剂性绝缘电阻抗电强度(介质耐电压)电路的导通镀覆孔(金属化孔)电阻互连电阻

GJB 360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

3 项检测项目

检测项目:绝缘电阻、接触电阻、X射线检查

检测对象:开关

绝缘电阻接触电阻

检测对象:电子元器件

X射线检查

GJB 1217A-2009

电连接器试验方法 方法

2 项检测项目

检测项目:绝缘电阻、接触电阻

检测对象:电连接器

绝缘电阻接触电阻

GJB 548B-2005

微电子器件试验方法和程序 方法

2 项检测项目

检测项目:外部目检、X射线检查

检测对象:电子元器件

外部目检X射线检查

GJB 548C-2021

微电子器件试验方法和程序 方法

2 项检测项目

检测项目:外部目检、X射线检查

检测对象:电子元器件

外部目检X射线检查

GJB 128A-97

半导体分立器件试验方法 方法

2 项检测项目

检测项目:外部目检、X射线检查

检测对象:电子元器件

外部目检X射线检查

GJB 3157-1998

半导体分立器件失效分析方法和程序 1001 方法

2 项检测项目

检测项目:外部目检、X射线检查

检测对象:电子元器件

外部目检X射线检查

GJB 3233-1998

半导体集成电路失效分析程序和方法

2 项检测项目

检测项目:外部目检、X射线检查

检测对象:电子元器件

外部目检X射线检查

GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分:试验方法:试验Ea和导则:冲击

2 项检测项目

检测项目:冲击试验、碰撞试验

检测对象:电工电子产品、专用设备、电子元器件

冲击试验碰撞试验

GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:电工电子产品、专用设备、电子元器件

低温试验

GJB 150.9-1986

军用设备环境试验方法 第9部分:湿热试验

1 项检测项目

检测项目:湿热试验

检测对象:电工电子产品、专用设备、电子元器件

湿热试验

GJB 150.18A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:电工电子产品、专用设备、电子元器件

冲击试验

GJB 4027A-2006

军用电子元器件破坏性物理分析方法

1 项检测项目

检测项目:X射线检查

检测对象:电子元器件

X射线检查

GJB 150.18-1986

军用设备环境试验方法 第18部分:冲击试验

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:电工电子产品、专用设备、电子元器件

冲击试验

GB/T 2423.10-2019

环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子产品、专用设备、电子元器件

振动试验

GJB 150.16A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第16部分:振动试验

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子产品、专用设备、电子元器件

振动试验

GJB 150.16-1986

军用设备环境试验方法 第16部分:振动试验

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子产品、专用设备、电子元器件

振动试验

QJ/T 815.1-1994

航天工业行业标准 产品公路运输模拟试验方法

1 项检测项目

检测项目:运输试验

检测对象:电工电子产品、专用设备、电子元器件

运输试验

机构信息

机构名称

北京航天光华电子技术有限公司检测试验中心

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区永定路51号(1区)9-9

法定代表人

陈东

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