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中国电子科技集团公司第四十六研究所中世博实验室

当前查看:中国电子科技集团公司第四十六研究所中世博实验室

北京市 · 北京市

地址:北京市海淀区万寿路27号

联系电话:010-68200821

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前机构按“电子元器件”筛选,展示 17 条相关能力。

按标准归类为 8 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T 5593-2015

电子元器件结构陶瓷材料

10 项检测项目

检测项目:体积电阻率、介电常数和介质损耗角正切值、热膨胀系数、导热系数、化学稳定性、杨氏模量、泊松比、体积密度、抗热震性 等 10 项,点击展开全部

检测对象:陶瓷材料

体积电阻率介电常数和介质损耗角正切值热膨胀系数导热系数化学稳定性杨氏模量、泊松比体积密度抗热震性抗折强度绝缘强度

GB/T 5594.5-1985

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

1 项检测项目

检测项目:体积电阻率

检测对象:陶瓷材料

体积电阻率

GB/T 5594.4-2015

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法

1 项检测项目

检测项目:介电常数和介质损耗角正切值

检测对象:陶瓷材料

介电常数和介质损耗角正切值

GB/T 5594.3-2015

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法

1 项检测项目

检测项目:热膨胀系数

检测对象:陶瓷材料

热膨胀系数

GB/T 5594.6-2015

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法

1 项检测项目

检测项目:化学稳定性

检测对象:陶瓷材料

化学稳定性

GB/T 5594.2-1985

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 T

1 项检测项目

检测项目:杨氏模量、泊松比

检测对象:陶瓷材料

杨氏模量、泊松比

SJ2422-1983

电子元器件用镀锡铜线

1 项检测项目

检测项目:可焊性

检测对象:焊接材料

可焊性

GJB360B-2009

电子及电子元器件试验方法 方法

1 项检测项目

检测项目:高温寿命

检测对象:光纤

高温寿命

机构信息

机构名称

中国电子科技集团公司第四十六研究所中世博实验室

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区万寿路27号

法定代表人

王海波

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