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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“光电子器件”筛选，展示 38 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：正向电压（输入二极管）、正向电流（二极管）、反向电流（二极管）、反向击穿电压（二极管）、集电极-发射极击穿电压、集电极-发射极饱和电压、输出截止电流、电流传输比 等 12 项，点击展开全部
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 方法
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 方法
检测项目：正向电压（输入二极管）、正向电流（二极管）、反向电流（二极管）、反向击穿电压（二极管）、集电极-发射极击穿电压、集电极-发射极饱和电压、输出截止电流、电流传输比 等 12 项，点击展开全部
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
检测项目：脉冲上升时间、脉冲下降时间、下降传输延迟时间、上升传输延迟时间、输入触发电流、隔离电容、隔离电阻
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 方法
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 方法
检测项目：脉冲上升时间、脉冲下降时间、下降传输延迟时间、上升传输延迟时间、输入触发电流、隔离电容、隔离电阻
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件