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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“半导体集成电路模拟开关”筛选，展示 6 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T14028-2018
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：静态工作电源电流、导通电阻R<Sub>on</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub>(off)、截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub>(off)、导通态漏电流I<Sub>DS</Sub>(on)
检测对象：半导体集成电路模拟开关