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2026-05-12
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GB/T 17574-1998
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》 第IV章 第2节
检测项目：输出高电平电压 VOH、输出低电平电压 VOL、输入高电平电流 IIH、输入低电平电流 IIL、输出高阻态电流 IOZ、静态条件下的电源电流、数字集成电路的功能检验方法、动态条件下的总电源电流 等 9 项，点击展开全部
检测对象：数字集成电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000
检测项目：输出高电平电压 VOH、输出低电平电压 VOL、输入高电平电流 IIH、输入低电平电流 IIL、输出高电平电流 IOH、输出低电平电流 IOL、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10735-1996
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10735-1996
检测项目：输出高电平电压 VOH、输出低电平电压 VOL、输入高电平电流 IIH、输入低电平电流 IIL、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、电源电流 ICC、输出高电平时电源电流 ICCH 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996
检测项目：输出高电平电压 VOH、输出低电平电压 VOL、输入负载电流 ILI、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、工作状态时 VDD 电源电流 IDD、工作状态时 VCC电源电流 ICC、维持状态时 VDD 电源电流 IDDS 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
GB/T 17940-2000
《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》 第IV篇第3节
检测项目：备用电流（静态电流）、基准电压 VREF、输入失调电压 VIO、输入失调电流 IIO、输入偏置电流 IIB、开环电压增益 AVD、共模抑制比 KCMR、电源电压抑制比 KSVR
检测对象：模拟集成电路
GB/T 4377-2018
《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项目：电压调整率SV、电流调整率SI、备用消耗电流ID和备用消耗电流变化△ID、基准电压 VREF
检测对象：半导体集成电路电压调整器
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入失调电压 VIO、输入失调电流 IIO、输入偏置电流 IIB、静态功耗 PD
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 6798-1996
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
检测项目：输入失调电压 VIO、输入失调电流 IIO、输入偏置电流 IIB
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018
检测项目：零点误差 EZ、增益误差 EG
检测对象：半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017
检测项目：输入失调电流 IIO、开环电压增益 AVD
检测对象：半导体集成电路运算放大器
《军用设备环境试验方法 高温试验》 GJB150.3-
《军用设备环境试验方法 高温试验》 GJB150.3-
检测项目：高温试验
检测对象：专用设备
《军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验》 GJB150.16A-
《军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验》 GJB150.16A-
检测项目：振动试验
检测对象：专用设备
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ20646-97
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ20646-97
检测项目：效率
检测对象：DC/DC变换器
《军用设备环境试验方法 冲击试验》 GJB150.18-
《军用设备环境试验方法 冲击试验》 GJB150.18-
检测项目：冲击试验
检测对象：专用设备
《军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验》 GJB150.18A-
《军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验》 GJB150.18A-
检测项目：冲击试验
检测对象：专用设备
《军用设备环境试验方法 低气压(高度)试验》 GJB150.2-
《军用设备环境试验方法 低气压(高度)试验》 GJB150.2-
检测项目：低气压试验
检测对象：专用设备
《军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压(高度)试验》 GJB150.2A-
《军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压(高度)试验》 GJB150.2A-
检测项目：低气压试验
检测对象：专用设备
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 4.1,
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 4.1,
检测项目：功能测试
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.9,
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.9,
检测项目：微分非线性 DNL
检测对象：半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.11,
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.11,
检测项目：积分非线性 INL
检测对象：半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.23,
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.23,
检测项目：电源电流 ICC
检测对象：半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.24,
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.24,
检测项目：直流电源抑制比 PSRRDC
检测对象：半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）
《军用设备环境试验方法盐雾试验》 GJB150.11-
《军用设备环境试验方法盐雾试验》 GJB150.11-
检测项目：盐雾试验
检测对象：专用设备
《军用装备实验室环境试验方法 第11部分：盐雾试验》 GJB150.11A-
《军用装备实验室环境试验方法 第11部分：盐雾试验》 GJB150.11A-
检测项目：盐雾试验
检测对象：专用设备
《军用设备环境试验方法 淋雨试验》 GJB150.8-
《军用设备环境试验方法 淋雨试验》 GJB150.8-
检测项目：淋雨试验
检测对象：专用设备
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.1,
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.1,
检测项目：输入失调电压 VIO
检测对象：半导体集成电路运算放大器
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.3,
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.3,
检测项目：输入偏置电流 IIB
检测对象：半导体集成电路运算放大器
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.7,
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.7,
检测项目：静态功耗 PD
检测对象：半导体集成电路运算放大器
《军用装备实验室环境试验方法 第8部分： 淋雨试验》 GJB150.8A-
《军用装备实验室环境试验方法 第8部分： 淋雨试验》 GJB150.8A-
检测项目：淋雨试验
检测对象：专用设备
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.9,
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.9,
检测项目：共模抑制比 KCMR
检测对象：半导体集成电路运算放大器
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.12,
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.12,
检测项目：电源电压抑制比 KSVR
检测对象：半导体集成电路运算放大器
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.13,
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.13,
检测项目：输出峰—峰电压VOPP
检测对象：半导体集成电路运算放大器