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2026-05-12
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GJB322A-1998
军用计算机通用规范
检测项目：低温试验、高温试验、恒定湿热试验、交变湿热试验、快速温度变化试验、冲击试验
检测对象：专用设备
GB/T 17574-1998
半导体集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、静态条件下的电源电流、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
GJB 367A-2001
军用通信设备通用规范 GJB367A-2001
检测项目：低温试验、高温试验、交变湿热试验、快速温度变化试验、冲击试验
检测对象：专用设备
GJB1621.7A-2006
技术侦察装备通用技术要求 第七部分：环境适应性要求和试验方法
检测项目：低温试验、高温试验、恒定湿热试验、交变湿热试验、温度冲击试验
检测对象：专用设备
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>、最小输入输出电压差V<sub>DROP</sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：振动试验、恒定加速度试验、外观检查、外形尺寸
检测对象：电工电子产品
GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：振动试验、恒定加速度试验、外观检查、外形尺寸
检测对象：电工电子产品
GJB128A-1997
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：振动试验、恒定加速度试验、外观检查、外形尺寸
检测对象：电工电子产品
GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：振动试验、恒定加速度试验、外观检查、外形尺寸
检测对象：电工电子产品
GJB3947A-2009
军用电子测试设备通用规范
检测项目：低温试验、高温试验、交变湿热试验、冲击试验
检测对象：专用设备
GJB2225A-2008
地面电子对抗设备通用规范
检测项目：低温试验、高温试验、交变湿热试验、温度冲击试验
检测对象：专用设备
GJB5727-2006
后勤装备高温低温湿热试验室试验方法
检测项目：低温试验、高温试验、恒定湿热试验、交变湿热试验
检测对象：专用设备
GJB74A-1998
军用地面雷达通用规范
检测项目：低温试验、高温试验、交变湿热试验
检测对象：专用设备
GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：振动试验、恒定加速度试验
检测对象：电工电子产品
GB/T 4937-1995
半导体器件机械和气候试验方法 第Ⅱ篇：
检测项目：恒定加速度试验、HAST试验
检测对象：电工电子产品
半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
IEC 60068-2-6:2007
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc: 振动（正弦）
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
GB/T2423.56-2023
环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh:宽带随机振动和导则
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
IEC 60068-2-64:2019
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
GB/T2423.58-2008
电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fi: 振动 混合模式
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
IEC 60068-2-80:2005
环境试验 第2-80部分: 试验方法 试验Fi: 振动 混合模式
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
GB/T2423.15-2008
电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ga和导则: 稳态加速度
检测项目：恒定加速度试验
检测对象：电工电子产品
IEC 60068-2-7:1986
电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ga和导则: 稳态加速度
检测项目：恒定加速度试验
检测对象：电工电子产品
GB/T 4937.4-2012
半导体器件机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测项目：HAST试验
检测对象：电工电子产品
IEC 60749-4:2002
半导体器件机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测项目：HAST试验
检测对象：电工电子产品
SJ/T10745-1996
半导体集成电路机械和气候试验方法
检测项目：高压蒸煮试验
检测对象：电工电子产品
GJB150.4A-2009
军用装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验
检测项目：低温试验
检测对象：专用设备
GJB150.4-1986
军用设备环境试验方法低温试验
检测项目：低温试验
检测对象：专用设备
GJB 4.3-1983
舰船电子设备环境实验 低温试验 GJB4.3-
检测项目：低温试验
检测对象：专用设备
GJB 4.4-1983
舰船电子设备环境实验 低温贮存试验 GJB4.4-
检测项目：低温试验
检测对象：专用设备
GJB150.3A-2009
军用装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验
检测项目：高温试验
检测对象：专用设备
GJB150.3-1986
军用设备环境试验方法高温试验
检测项目：高温试验
检测对象：专用设备
GJB 4.2-1983
舰船电子设备环境实验 高温试验 GJB4.2-
检测项目：高温试验
检测对象：专用设备
QJ908B-2012
电子产品老炼试验方法
检测项目：高温试验
检测对象：专用设备
GJB 4.5-1983
舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB4.5-
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：专用设备
GJB150.9A-2009
军用装备实验室环境试验方法第9部分：湿热试验
检测项目：交变湿热试验
检测对象：专用设备
GJB150.9-1986
军用设备环境试验方法湿热试验
检测项目：交变湿热试验
检测对象：专用设备
GJB 4.6-1983
舰船电子设备环境实验 交变湿热试验 GJB4.6-
检测项目：交变湿热试验
检测对象：专用设备
GJB150.5-1986
军用设备环境试验方法温度冲击试验
检测项目：快速温度变化试验
检测对象：专用设备
GJB150.5A-2009
军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验
检测项目：快速温度变化试验
检测对象：专用设备
GJB150.18A-2009
军用装备实验室环境试验方法第18部分：冲击试验 GJB3947A-2009
检测项目：冲击试验
检测对象：专用设备
GJB150.18-1986
军用设备环境试验方法冲击试验
检测项目：冲击试验
检测对象：专用设备
GJB 4.9-1983
舰船电子设备环境试验冲击试验
检测项目：冲击试验
检测对象：专用设备