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2026-05-12
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按标准归类为 21 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-750F:2012
半导体测试方法测试标准
检测项目：漏源间反向击穿电压、漏极反向电流、栅极触发电流、栅极触发电压、保持电流、锁存电流、关闭状态正向漏电流、关闭状态反向漏电流 等 33 项，点击展开全部
检测对象：功率金属氧化物场效应管
检测对象：晶闸管
检测对象：晶体管
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
IEC 60747-8:2021
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管
检测项目：漏极反向电流、栅极漏电流、体二极管压降、跨导、开关时间、体二极管反向恢复时间、体二极管反向恢复电荷、栅极电荷 等 14 项，点击展开全部
检测对象：功率金属氧化物场效应管
IEC 60747-9:2019
半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管
检测项目：集射间反向击穿电压、通态电压、集电极反向漏电流、栅极漏电流、开关时间&损耗、短路耐受时间、栅极电荷、栅极串联等效电阻 等 12 项，点击展开全部
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法
检测项目：集射极反向击穿电压、集射间反向击穿电压、开关时间、漏源间反向击穿电压、稳态热阻、老炼试验、间歇功率试验、稳态功率试验 等 10 项，点击展开全部
检测对象：晶体管
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
检测对象：功率金属氧化物场效应管
检测对象：电子元器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序
检测项目：高温试验、超声检测、键合强度、剪切强度
检测对象：电子元器件
IEC 60747-2:2025
半导体器件 第2部分：分立器件-整流二极管
检测项目：二极管反向恢复时间
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
JESD24-11:1996(R2002)
功率MOSFET栅极串联等效电阻测试方法
检测项目：栅极串联等效电阻
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
检测对象：功率金属氧化物场效应管
JESD51-14:2010
一维传热路径下半导体器件结壳热阻瞬态双界面测试法
检测项目：稳态热阻
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
检测对象：功率金属氧化物场效应管
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001:2024
器件级静电放电灵敏度测试-人体模式 4,
检测项目：人体静电放电模式
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
ANSI/ESD STM5.2-2012
器件级静电放电灵敏度测试-机械模式
检测项目：机械静电放电模式
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
检测对象：功率金属氧化物场效应管
IEC 60749-34：2010
半导体器件--机械和气候试验方法- 第34部分：功率循环
检测项目：模块功率循环试验
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2024
器件级静电放电灵敏度测试-人体模式 4,
检测项目：人体静电放电模式
检测对象：功率金属氧化物场效应管
JESD22-A108G:2022
温度，反偏和操作寿命试验
检测项目：老炼试验
检测对象：功率金属氧化物场效应管
JESD22-A101D.01:2021
高温湿热稳态寿命试验
检测项目：高温湿热试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A104F:2020
温度循环
检测项目：高低温循环试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E:2015
高加速温度和湿度应力试验
检测项目：高加速温度和湿度应力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B.01:2021
加速耐湿性试验-不加电高加速应力试验
检测项目：无偏置高加速应力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A102E:2015
加速耐湿性试验-不加电蒸煮
检测项目：高压蒸煮试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A103E.01:2021
高温存储寿命试验
检测项目：高温存储寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A119A:2015
低温存储寿命试验
检测项目：低温存储寿命试验
检测对象：电子元器件
GJB 4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法
检测项目：超声检测
检测对象：电子元器件