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2026-05-12
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SN/T 1650-2005
金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定-电感耦合等离子体原子发射光谱法
检测项目：铁、铝、钙、钛
检测对象：工业硅
GB/T 24582-2023
多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
检测项目：表金属：钠,镁,铝,钾,钙,铬,铁,镍,铜,锌,钛,钼,钨,钴
检测对象：多晶硅
GB/T 37049-2018
电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
检测项目：体金属：铬,铁,镍,铜,锌,钠
检测对象：多晶硅
GB/T 29057-2023
用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
检测项目：多晶硅转化单晶硅的制备及评价
检测对象：多晶硅
GB/T 4348.1-2013
工业用氢氧化钠氢氧化钠和碳酸钠含量的测定
检测项目：氢氧化钠
检测对象：液体烧碱
HG/T 4205-2011
工业氧化钙
检测项目：氧化钙
检测对象：石灰
GB/T 22627-2022
水处理剂 聚氯化铝
检测项目：氧化铝
检测对象：聚合氯化铝
GB/T 14849.6-2014
工业硅化学分析方法 第6部分：碳含量的测定 红外吸收法
检测项目：碳
检测对象：工业硅
GB/T 1550-2018
非本征半导体材料导电类型测试方法
检测项目：导电类型
检测对象：多晶硅
GB/T 1551-2021
硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
检测项目：电阻率
检测对象：多晶硅
GB/T 1553-2023
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
检测项目：少子寿命
检测对象：多晶硅
GB/T 1557-2018
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
检测项目：氧含量
检测对象：多晶硅
GB/T 1558-2023
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
检测项目：碳含量
检测对象：多晶硅
GB/T 24581-2022
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
检测项目：硼,磷,铝,锑,镓,砷
检测对象：多晶硅
GB/T 35306-2023
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
检测项目：碳、氧含量
检测对象：多晶硅