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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 17 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法1015.1 老炼
检测项目：老炼试验、密封-粗检漏、密封-细检漏、温度循环、写/擦疲劳寿命
检测对象：系统级电子器件
method 1015.1 Burn-in test
微电子器件试验方法和程序 微电路测试方法 GJB 548C-2021 方法1015.1 老炼
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883L :2019 方法1015.10
微电子器件试验方法和程序 微电路测试方法 MIL-STD-883L :2019 方法
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883L :2019
国防部试验方法标准 微型电路 方法
检测项目：老炼试验、密封-粗检漏、密封-细检漏、温度循环、写/擦疲劳寿命
检测对象：系统级电子器件
JEDEC JESD22-A109B
密封性 JESD22-A109B
检测项目：密封-粗检漏、密封-细检漏
检测对象：系统级电子器件
JEDEC JESD22-A108G
高温工作寿命 JESD22-A108G
检测项目：老炼试验
检测对象：系统级电子器件
JESD22-A104F
温度循环
检测项目：温度循环
检测对象：系统级电子器件
AEC-Q100-005-REV-D1
非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和使用寿命测试
检测项目：写/擦疲劳寿命
检测对象：系统级电子器件