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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 4 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
method 1015.1 Burn-in test
微电子器件试验方法和程序 微电路测试方法 GJB 548C-2021 方法1015.1 老炼
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883L :2019 方法1015.10
微电子器件试验方法和程序 微电路测试方法 MIL-STD-883L :2019 方法
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
GB/T2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验A：低温 试验A:低温
检测项目：低温试验
检测对象：电子元器件
GB/T2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验B：高温 试验B:高温
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件