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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选，展示 5 条相关能力。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 61967-4:2021
集成电路-电磁发射测量，150kHz - 1GHz-第4部分：传导发射测量- 1 ohm/150 ohm直接耦合法
检测项目：传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法
检测对象：集成电路
EN IEC 61967-4:2021
集成电路-电磁发射测量，150kHz - 1GHz-第4部分：传导发射测量- 1 ohm/150 ohm直接耦合法
检测项目：传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法
检测对象：集成电路
IEC 61967-2:2005
集成电路-电磁发射测量，150kHz - 1GHz-第2部分:辐射发射测量- TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法
检测对象：集成电路
IEC 61967-8:2023
集成电路-电磁发射测量方法-第8部分:辐射发射测量- IC带状线法
检测项目：辐射发射测量-IC带状线法
检测对象：集成电路
EN IEC 61967-8:2023
集成电路-电磁发射测量方法-第8部分:辐射发射测量- IC带状线法
检测项目：辐射发射测量-IC带状线法
检测对象：集成电路