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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 62132”筛选，展示 4 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 62132-2:2010
集成电路-电磁抗扰度测量，150kHz - 1GHz-第2部分:辐射抗扰度测量- TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：辐射抗扰度测量-TEM小室和宽带TEM小室法
检测对象：集成电路
IEC 62132-3:2007
集成电路-电磁抗扰度测量,150 kHz -1 GHz - 第三部分：大电流注入（BCI）法
检测项目：传导抗扰度测量-大电流注入（BCI）法
检测对象：集成电路
IEC 62132-4:2006
集成电路-电磁抗扰度测量,150 kHz -1 GHz - 第四部分：直接射频功率输入法
检测项目：传导抗扰度测量-直接注入法
检测对象：集成电路
IEC 62132-8:2012
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
检测项目：辐射抗扰度测量-带状线法
检测对象：集成电路