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江苏省 · 苏州市
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2026-05-12
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JY/T 0581-2020
透射电子显微镜分析方法通则
检测项目：Z衬度像、X射线能谱分析、显微结构
检测对象：固体材料
JY/T 0584-2020
扫描电子显微镜分析方法通则
检测项目：微观形貌、微区元素能谱分析
检测对象：固体材料
GB/T 19627-2005
粒度分析--光子相关光谱法
检测项目：粒度
检测对象：固体材料
GB/T 32282-2015
氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
检测项目：位错密度
检测对象：固体材料
GB/T 32189-2015
氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
检测项目：粗糙度
检测对象：固体材料
GB/T 31227-2014
原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
检测项目：粗糙度
检测对象：固体材料
GB/T 30854-2014
LED发光用氮化镓基外延片 附录E
检测项目：X射线双晶摇摆曲线半高宽
检测对象：固体材料
GB/T 32188-2015
氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
检测项目：X射线双晶摇摆曲线半高宽
检测对象：固体材料
YS/T 839-2012
硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
检测项目：薄膜厚度
检测对象：固体材料
GB/T 6040-2019
红外光谱分析方法通则
检测项目：定性分析特征吸收
检测对象：固体材料
GB∕T 36969-2018
纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法
检测项目：纳米薄膜厚度
检测对象：固体材料
GB/T 30866-2014
碳化硅单晶片直径测试方法
检测项目：直径
检测对象：固体材料
GB/T 29022-2021
粒度分析 动态光散射法（DLS）
检测项目：粒度
检测对象：固体材料
GB/T 4586-94
半导体器件分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：漏极电流
检测对象：场效应晶体管
GB/T 20307-2006
纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
检测项目：长度
检测对象：固体材料
GB/T 16594-2008
微米级长度的扫描电镜测量方法通则
检测项目：长度
检测对象：固体材料
GB/T 18907-2013
微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
检测项目：显微结构
检测对象：固体材料
JY/T 0587-2020
多晶体X射线衍射方法通则
检测项目：物相的定性分析
检测对象：固体材料