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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 8 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序
检测项目：外部目检、PIND、内部目检、扫描电镜检查、键合强度、剪切强度、引出端强度、半导体集成电路失效分析
检测对象：电子元器件