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2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 246 条能力记录。
按标准归类为 29 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流<I>I</I><Sub>IO</Sub>、输入偏置电流<I>I</I><Sub>IB</Sub>、开环电压增益<I>A</I><Sub>VD</Sub>、共模抑制比<I>K</I><Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比<I>K</I><Sub>SVR</Sub>、输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压<I>V</I><Sub>OL</Sub> 等 11 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇2节/
检测项目：输入失调电流<I>I</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电压<I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入偏置电流<I>I</I><Sub>IB</Sub>、开环电压增益<I>A</I><Sub>VD</Sub>、共模抑制比<I>K</I><Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比<I>K</I><Sub>SVR</Sub>、输出峰-峰值电压<I>V</I><Sub>OPP</Sub>、电源电流<I>I</I><Sub>cc</Sub> 等 10 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路运算放大器
GB/T17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇第2节/
检测项目：输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>、输出高阻态时高电平电流<I>I</I><Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流<I>I</I><Sub>OZL</Sub>、静态条件下的电源电流<I>I</I><Sub>DD</Sub>、功能测试、输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压<I>V</I><Sub>OL</Sub>
检测对象：数字集成电路
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率<I>S</I><Sub>V</Sub>、电流调整率<I>S</I><Sub>I</Sub>、电源纹波抑制比<I>S</I><Sub>RIP</Sub>、输出电压<I>V</I><Sub>o</Sub>、基准电压<I>V</I><Sub>REF</Sub>、输出阻抗<I>Z</I><Sub>o</Sub>、短路电流<I>I</I><Sub>os</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
固体继电器总规范 GJB1515B-2017
固体继电器总规范 GJB1515B-2017
检测项目：输出导通电阻、输出电压降、输入接通电流、输入接通电压、输入关断电压、输出漏电流
检测对象：固体继电器
GJB1648A-2011
晶体振荡器通用规范
检测项目：频率f、逻辑输出电平（方波）、输入电流功率、占空因数（方波）、上升时间和下降时间
检测对象：晶体振荡器
GJB65B-1999
有可靠性指标的电磁继电器总规范
检测项目：动作电压、释放电压、动作和释放时间、绕圈电阻、静态接触电阻
检测对象：电磁继电器
GJB65C-2021
有失效率等级的电磁继电器通用规范
检测项目：动作电压、释放电压、动作和释放时间、绕圈电阻、静态接触电阻
检测对象：电磁继电器
GJB1042A-2002
电磁继电器总规范
检测项目：动作电压、释放电压、动作和释放时间、绕圈电阻、静态接触电阻
检测对象：电磁继电器
GJB1217A-2009
电连接器试验方法 方法
检测项目：接触电阻、绝缘电阻检查、介质耐压、分离力和啮合力
检测对象：连接器
RTCA/DO160F-2007
机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160F-
检测项目：湿热试验、冲击试验、振动试验
检测对象：专用设备及电气产品
GB/T14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻<I>R</I><Sub>ON</Sub>、截止态漏极漏电流<I>I</I><Sub>D（OFF）</Sub>、截止态源极漏电流<I>I</I><Sub>S（OFF）</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GJB 2138A-2015
石英晶体元件通用规范
检测项目：频率f、等效电阻
检测对象：晶体谐振器
小型熔断器通用规范 GJB5850-2006
小型熔断器通用规范 GJB5850-2006
检测项目：电阻、电压降
检测对象：小型熔断器
旋转开关通用规范 GJB734A-2002
旋转开关通用规范 GJB734A-2002
检测项目：接触电阻、耐电压
检测对象：开关
GJB150.4-1986
军用设备环境试验方法 低温试验
检测项目：低温试验
检测对象：专用设备及电气产品
GJB150.9A-2009
军用装备实验室环境试验方法 第9部分 湿热试验
检测项目：湿热试验
检测对象：专用设备及电气产品
HB5830.11-1986
机载设备环境条件及试验方法 湿热
检测项目：湿热试验
检测对象：专用设备及电气产品
GJB150.18-1986
军用设备环境试验方法 冲击试验
检测项目：冲击试验
检测对象：专用设备及电气产品
GJB4027A-2006
军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0601
检测项目：外观和机械检查
检测对象：连接器
GJB150.18A-2009
军用装备实验室环境试验方法 第18部分 冲击试验
检测项目：冲击试验
检测对象：专用设备及电气产品
GJB599B-2012
耐环境快速分离高密度小圆形电连接器通用规范 方法
检测项目：连接扭矩
检测对象：连接器
HB5830.2/3-1982
机载设备环境条件及试验方法 冲击 HB5830.2-
检测项目：冲击试验
检测对象：专用设备及电气产品
GJB150.16-1986
军用设备环境试验方法 振动试验
检测项目：振动试验
检测对象：专用设备及电气产品
密封钮子开关总规范 GJB735-1989
密封钮子开关总规范 GJB735-1989
检测项目：接触电阻
检测对象：开关
钮子开关通用规范 GJB 2450A-2012
钮子开关通用规范 GJB 2450A-2012
检测项目：接触电阻
检测对象：开关
微动开关通用规范 GJB809B-2013
微动开关通用规范 GJB809B-2013
检测项目：接触电阻
检测对象：开关
按钮开关通用规范 GJB1512A-2011
按钮开关通用规范 GJB1512A-2011
检测项目：接触电阻
检测对象：开关
GJB360B-2009
电子及电气元器件实验方法 方法
检测项目：接触电阻
检测对象：开关