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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 48 条相关能力。
按标准归类为 9 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB4027A-2006
军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0601
检测项目：外观和机械检查、声学扫描显微镜检查
检测对象：连接器
检测对象：电子元器件
GJB128A-1997
半导体分立器件试验方法
检测项目：温度循环、密封、外部目检、老炼、颗粒碰撞噪声检测试验、恒定加速度
检测对象：电子元器件
GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：温度循环、密封、外部目检、老炼、颗粒碰撞噪声检测试验、恒定加速度
检测对象：电子元器件
GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法
检测项目：温度循环、密封、外部目检、老炼、颗粒碰撞噪声检测试验、恒定加速度
检测对象：电子元器件
GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：温度循环、密封、外部目检、老炼、颗粒碰撞噪声检测试验、恒定加速度
检测对象：电子元器件
GJB360A-1996
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：温度循环、密封、老炼、颗粒碰撞噪声检测试验、稳态加速度
检测对象：电子元器件
GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：温度循环、密封、老炼、颗粒碰撞噪声检测试验、稳态加速度
检测对象：电子元器件
GJB65B-1999
有可靠性指标的电磁继电器总规范
检测项目：外部目检、颗粒碰撞噪声检测试验、内部潮湿
检测对象：电子元器件
GJB65C-2021
有失效率等级的电磁继电器通用规范
检测项目：外部目检、颗粒碰撞噪声检测试验、内部潮湿
检测对象：电子元器件