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2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 554 条能力记录。
按标准归类为 72 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：内部目检、外部目检、超声检测、X射线检查、耐湿、扫描电子显微镜(SEM)检查、可焊性、温度变化 等 11 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：内部目检、外部目检、X射线检查、扫描电子显微镜(SEM)检查、可焊性、耐焊接热、温度变化、剪切强度 等 9 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：X射线检查、稳态湿热试验、可焊性、温度变化、高温工作寿命试验
检测对象：电子元器件
GJB 4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0901
检测项目：超声检测、键合强度
检测对象：电子元器件
MIL-STD-750-2B w/CHANGE 1：2023
半导体器件机械试验方法 第2部分：方法2001~2999 方法
检测项目：剪切强度、键合强度
检测对象：电子元器件
AEC-Q101 Rev-E:2021
基于失效机理的汽车应用分立半导体器件应力试验认证 表格2-C
检测项目：剪切强度、键合强度
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A108G:2022
温度、偏置和工作寿命
检测项目：低温工作寿命试验、高温工作寿命试验
检测对象：电子元器件
GB/T2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A： 低温
检测项目：低温试验
检测对象：电子电气产品
IEC 60068-2-30:2025
环境试验 第2部分：试验方法 试验Db 交变湿热（12h＋12h循环）
检测项目：温湿度循环试验
检测对象：电子电气产品
GB/T 17626.9-2011
电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验
检测项目：脉冲磁场抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-4-9 Ed2.0:2016
电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验
检测项目：脉冲磁场抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
GB/T 17626.11-2023
电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测项目：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-4-11:2020
电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测项目：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
GB/T9254.2-2021
信息技术设备 抗扰度 限值和测量方法
检测项目：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
CISPR 35:2016
信息技术设备 抗扰度 限值和测量方法
检测项目：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
GB/T 17799.1-2017
电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的抗扰度 表4
检测项目：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-6-1:2016
电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的抗扰度 表4
检测项目：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
GB/T 17799.2-2023
电磁兼容 通用标准 第2部分：工业环境中的抗扰度标准 表4
检测项目：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-6-2:2016
电磁兼容 通用标准 第2部分：工业环境中的抗扰度标准 表4
检测项目：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
GB/T 2423.34-2024
环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验
检测项目：温湿度循环试验
检测对象：电子电气产品
IEC 61326-1:2020
用于测量、控制和实验室用途的电气设备电磁兼容性要求 第1部分：一般要求
检测项目：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
GB 17625.1-2022
电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项目：谐波电流发射限值
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-3-2 Ed5.0:2018
电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项目：谐波电流发射限值
检测对象：电子电气产品
GB/Z 17625.6-2003
电磁兼容 限值 对额定电流大于16A的设备在低压供电系统中产生的谐波电流的限制
检测项目：谐波电流发射限值
检测对象：电子电气产品
IEC TR 61000-3-4:1998
电磁兼容 限值 对额定电流大于16A的设备在低压供电系统中产生的谐波电流的限制
检测项目：谐波电流发射限值
检测对象：电子电气产品
GB/T 17625.8-2015
电磁兼容性(EMC) .第3-12部分:限值。每相输入电流> 16a和≤75 A的公共低压系统设备产生谐波电流的限值
检测项目：谐波电流发射限值
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-3-12:2011
电磁兼容性(EMC) .第3-12部分:限值。每相输入电流> 16a和≤75 A的公共低压系统设备产生谐波电流的限值
检测项目：谐波电流发射限值
检测对象：电子电气产品
GB/T 17625.2-2007
电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制
检测项目：电压波动和闪烁
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-3-3:2013/AMD1:2017
电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制
检测项目：电压波动和闪烁
检测对象：电子电气产品
GB/Z 17625.3-2000
电磁兼容 限值 对额定电流大于16 A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制
检测项目：电压波动和闪烁
检测对象：电子电气产品
IEC 60068-2-38:2021
环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验
检测项目：温湿度循环试验
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-3-5:2009
电磁兼容 限值 对额定电流大于16 A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制
检测项目：电压波动和闪烁
检测对象：电子电气产品
GB/T 17626.18-2016
电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡波抗扰度试验
检测项目：阻尼振荡波抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-4-18:2019
电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡波抗扰度试验
检测项目：阻尼振荡波抗扰度试验
检测对象：电子电气产品
GB/T 17626.10-2017
电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验
检测项目：阻尼振荡磁场抗扰度
检测对象：电子电气产品
IEC 61000-4-10:2016
电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验
检测项目：阻尼振荡磁场抗扰度
检测对象：电子电气产品
CISPR 32:2019
多媒体设备的电磁兼容性-发射要求 A.
检测项目：电源端子和电信端口传导骚扰
检测对象：电子电气产品
GB/T 9254.1-2021
信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 附录A A.
检测项目：电源端子和电信端口传导骚扰
检测对象：电子电气产品
GB 4343.1-2018
家用电器、电动工具和类似器具的要求 第1部分:发射
检测项目：电源端子和电信端口传导骚扰
检测对象：电子电气产品
CISPR 14-1:2020
家用电器、电动工具和类似器具的要求 第1部分:发射
检测项目：电源端子和电信端口传导骚扰
检测对象：电子电气产品
GB 17799.4-2022
电磁兼容 通用标准 第4部分：工业环境中的发射 9 表
检测项目：电源端子和电信端口传导骚扰
检测对象：电子电气产品
GB/T 2423.3-2016
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：电子电气产品
JESD22-B101D-2022
外部目检
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
GB/T 4937.3-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
IEC 60749-3:2017
半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
IEC 60068-2-78:2025
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：电子电气产品
JEDEC JESD22-A100E:2020
偏压温湿度循环寿命测试
检测项目：偏压温湿度循环寿命测试
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A101D.01:2021
稳态温度湿度偏压寿命测试
检测项目：稳态温度湿度偏压寿命测试
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A103E.01:2021
高温存储寿命测试
检测项目：高温存储寿命试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.50-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy: 恒定湿热 主要用于元件的加速试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：电子电气产品
JEDEC JESD22-A104F.01:2023
温度循环测试
检测项目：温度循环试验(TC)
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A105D:2020
功率温度循环试验
检测项目：功率温度循环试验
检测对象：电子元器件
GB/T 4937.21-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分：可焊性
检测项目：可焊性
检测对象：电子元器件
IEC 60749-21:2011
半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分：可焊性
检测项目：可焊性
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.32-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ta: 润湿称量法可焊性
检测项目：可焊性
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A106B.02:2022
冷热冲击
检测项目：冷热冲击
检测对象：电子元器件
IEC 60068-2-67:2019
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy: 恒定湿热 主要用于元件的加速试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：电子电气产品
GB/T 4937.15-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热
检测项目：耐焊接热
检测对象：电子元器件
IEC 60749-15:2020
半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热
检测项目：耐焊接热
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-B116B:2017
引线键合点剪切试验
检测项目：剪切强度
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-B117B:2014
焊锡球剪切
检测项目：剪切强度
检测对象：电子元器件
GB/T 4937.19-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度
检测项目：剪切强度
检测对象：电子元器件
IEC 60749-19:2010
半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度
检测项目：剪切强度
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：温度变化试验
检测对象：电子电气产品
AEC - Q100-001 REV-C-1998
引线键合点剪切试验
检测项目：剪切强度
检测对象：电子元器件
AEC - Q100-010 REV-A-2003
焊锡球剪切测试
检测项目：剪切强度
检测对象：电子元器件
GB/T 4937.22-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分：键合强度
检测项目：键合强度
检测对象：电子元器件
IEC 60749-22:2002
半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分：键合强度
检测项目：键合强度
检测对象：电子元器件
IEC 60068-2-14:2023
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：温度变化试验
检测对象：电子电气产品
AEC-Q101-003 Rev-A:2005
金球推力测试方法
检测项目：键合强度
检测对象：电子元器件
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：高温工作寿命试验
检测对象：电子元器件
AEC - Q100-008 - REV-A-2003
早期寿命失效率
检测项目：早期寿命失效率
检测对象：电子元器件