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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选，展示 4 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 61967-2:2005
集成电路电磁发射测试第2部分：辐射发射测试-TEM小室和宽带TEM小室
检测项目：芯片级辐射发射测试-TEM小室法
检测对象：电子元器件
IEC 61967-4:2021
集成电路-电磁发射的测量-第4部分:传导发射测量- 1Ω&150Ω直接耦合法
检测项目：芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法
检测对象：电子元器件
IEC 61967-4:2006
集成电路-电磁发射的测量-第4部分:传导发射测量- 1Ω&150Ω直接耦合法
检测项目：芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法
检测对象：电子元器件
IEC 61967-4:2002
集成电路-电磁发射的测量-第4部分:传导发射测量- 1Ω&150Ω直接耦合法
检测项目：芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法
检测对象：电子元器件