当前查看：北京芯可鉴科技有限公司工业芯片检测分析实验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 62132”筛选，展示 2 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 62132-2:2010
集成电路-电磁抗扰度的测量-第2部分:辐射抗扰度的测量-TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：芯片辐射抗扰度
检测对象：电子元器件
IEC 62132-4：2006
集成电路.电磁抗扰度150khz~1ghz的测量.第4部分:直接射频功率注入法
检测项目：芯片传导抗扰度 -直接射频功率注入法 (DPI)
检测对象：电子元器件