当前查看：深圳市聚飞光电股份有限公司实验室
广东省 · 深圳市
地址：深圳市龙岗区平湖街道鹅公岭社区鹅岭工业区4号
联系电话：0755-29646311
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 11 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-883J:2013
微电路失效分析程序方法： 5003 方法5003
检测项目：外部检查、内部检查、电性能确认
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883J
微电路失效分析程序方法：
检测项目：外部检查、电性能确认
检测对象：电子元器件
GB/T 17359-2012
微束分析 能谱法定量分析
检测项目：元素分析
检测对象：电子元器件
JY/T 010-1996
分析型扫描电子显微镜方法通则
检测项目：SEM形貌分析
检测对象：电子元器件
JY/T 0584-2020
扫描电子显微镜分析方法通则
检测项目：SEM形貌分析
检测对象：电子元器件
GB/T 4857.5-1992
包装运输 包装件跌落试验方法
检测项目：跌落
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.17-2008
电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验ka盐雾
检测项目：盐雾
检测对象：电子元器件
IEC 60068-2-11:2021
环境试验 第2-11部分 试验方法 试验ka盐雾
检测项目：盐雾
检测对象：电子元器件