当前查看：西安应用光学研究所可靠性与环境检测试验中心
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 10 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：温度循环、密封、粒子碰撞噪声检测试验、外部目检、稳定性烘焙
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：温度循环、密封、粒子碰撞噪声检测试验、外部目检、稳定性烘焙
检测对象：微电子器件