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军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB 4027A-2006 项目0100～1600

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101~0106第2.2条,0201~0210第2.2条,0401第2.2条,0801~0803第2.2条,1101~1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB 4027B-2021 项目0100～1600

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101~0106第2.2条,0201~0210第2.2条,0401第2.2条,0801~0803第2.2条,1101~1104

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1101~1103第2.3条,0105第2.3条,0207第2.3条,0401第2.4条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1101~1103第2.3条,0105第2.3条,0207第2.3条,0401第2.4条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1104第2.4条,0105第2.4条,0207第2.4条,0401第2.5条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1104第2.4条,0105第2.4条,0207第2.4条,0401第2.5条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101~0102第2.5条，0103~0104第2.3条,0801~0802第2.5条，0803第2.3条,0201~0203第2.5条,0207第2.6条，0208第2.3条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101~0102第2.5条，0103~0104第2.3条,0801~0802第2.5条，0803第2.3条,0201~0203第2.5条,0207第2.6条，0208第2.3条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101~0102第2.6条，0103第2.5条，0104第2.4条,0801~0802第2.6条，0803第2.4条,0201~0203第2.6条,0207第2.7条，0208第2.4条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101~0102第2.6条，0103第2.5条，0104第2.4条,0801~0802第2.6条，0803第2.4条,0201~0203第2.6条,0207第2.7条，0208第2.4条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0102第2.3条,0802第2.3条,0201~0203第2.3条，0204第2.4条,0106

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0102第2.3条,0802第2.3条,0201~0203第2.3条，0204第2.4条,0106

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0102第2.4条,0802第2.4条,0201~0203第2.4条，0204第2.5条,0106

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0102第2.4条,0802第2.4条,0201~0203第2.4条，0204第2.5条,0106

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0106第2.7条,1101~1102第2.8条，1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0106第2.7条,1101~1102第2.8条，1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0106第2.8条,1101~1102第2.9条，1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0106第2.8条,1101~1102第2.9条，1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1101~1102

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1101~1102

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1102第2.11条,1104

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1102第2.11条,1104

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.12

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1004.1

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.14,4.5.15

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.21

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1010.1

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.2

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.3

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.15

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.15

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.16

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998 4.6.21

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.3

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.24

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015 4.5.21

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.4

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.3

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.3

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.15

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.15

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法208,方法210

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法208,方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法208,方法210

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法208,方法

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验T：锡焊 GB/T 2423.28-2005

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2003.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2003.2

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法108

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.10

射频固定和可变片式电感器通用规范GJB 1864A-2011 4.5.11,4.5.12

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.11,

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.13，4.6.21

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992 4.6.13,

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.14，4.5.23

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015 4.5.14,

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.8，4.7.11

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.8,

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.6,4.5.13

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.10,

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.9,4.6.22

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998 4.6.9,

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.6,4.5.14

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.10,4.6.21

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018 4.6.10,

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.12,4.7.8

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999 4.7.12,

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法108

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.12,4.5.8

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.12,4.5.8

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.9,4.6.10

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993 4.6.9,

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.9,4.5.10

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015 4.5.9,

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法211

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.16

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.21

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法211

电子及电气元件试验方 GJB 360A-1996 方法

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.11

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.13

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.14，4.6.9

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.14,

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.13

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.13

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2004.2

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2004.3

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.11

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.12

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.12

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.19

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.18

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.19

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.16，4.5.10

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.16,

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.13

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.13

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法101

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法101

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Ka 盐雾GB/T 2423.17-2008

电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Ka 盐雾 GB/T 2423.17-

环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb：盐雾，交变(氯化钠溶液) GB/T 2423.18-2021

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1009.2

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1009.2

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.18

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.14

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温 GB/T 2423.2-2008

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.17

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法104

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法104

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1002

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1002

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.17

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.28

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.30

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法215

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.14,4.6.24

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998 4.6.14,4.6.24,

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法215

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2015.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2015.2

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992 4.6.2

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.22

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.9

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.29

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.7

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.31

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.14

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.19,4.5.18,4.5.10

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.19,

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.14

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.14

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993 4.6.11

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.11

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.15,4.6.26

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018 4.6.15,

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.7,4.7.11

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999 4.7.7,

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.7,4.5.11

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.7,4.5.11

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.22

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.22,4.5.23

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015 4.5.22,

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1，1008.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1,

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1005.1,1008.1

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992 4.6.19

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.21

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.21

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.16

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法103

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法103

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验GB/T 2423.3-2016

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 2423.3-

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法106

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法106

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db 交变湿热（12h＋12h循环） GB/T 2423.4-2008

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.13

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1004.1

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.15

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.17

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.18

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.20

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.18

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.23

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.25

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.15

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.20

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999 4.7.9

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.9

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.9

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.17

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.17

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法213

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法213

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击 GB/T 2423.5-

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2002.1试验条件A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2002.1试验条件A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.14

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.16

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

射频干扰滤波器总规范GJB 1518A-2015 4.5.18

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.15.1

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.27

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.16

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.29

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.19

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.19

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法201,方法204,方法214

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法201,方法204,方法

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法201,方法204,方法214

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法201,方法204,方法

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999 4.7.5

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动(正弦) GB/T 2423.10-2019

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2007

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2007

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.19

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.17

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

射频干扰滤波器总规范GJB 1518A-2015 4.5.19

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.14

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.26

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.17

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.28

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.5

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.18

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法212

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法212

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2001.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2001.1

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.20

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.20

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法105

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法105

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验M:低气压海拔高度试验GB/T 2423.21-2008

电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验M:低气压海拔高度试验 GB/T 2423.21-

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.5

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1001

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1001

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.5

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.6

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.6

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.6

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法107

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法107

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2012 Na

环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 GB/T 2423.22-

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1