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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 1 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-202-108-2015+N2-2024
电子元器件寿命试验方法 方法
检测项目：高温度工作寿命
检测对象：薄膜电容器