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2026-05-12
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当前展示该机构前 15 条能力;该机构共 15 条能力记录。
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JESD22-A113I:2020
非密封表面贴装器件在可靠性测试之前的预处理方法
检测项目:预处理
检测对象:集成电路
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001:2024
静电放电敏感度试验-人体模型-组件级别
检测项目:人体模型静电放电试验
检测对象:集成电路
AEC-Q100-002 Rev-E August 20, 2013
人体模型静电放电试验 AEC- Q100-002 Rev-E August 20,
检测项目:人体模型静电放电试验
检测对象:集成电路
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002:2025
静电放电敏感度试验-充电器件模型-元器件级别
检测项目:充电器件模型静电放电试验
检测对象:集成电路
AEC-Q100-011 Rev-D January 29, 2019
充电器件模型静电放电试验
检测项目:充电器件模型静电放电试验
检测对象:集成电路
JESD78F.02:2023
集成电路闩锁测试
检测项目:闩锁测试
检测对象:集成电路
AEC-Q100-004 Rev-D August 7, 2012
集成电路闩锁测试
检测项目:闩锁测试
检测对象:集成电路
JESD22-A101D.01:2021
稳态温度湿度偏压寿命试验 JESD22-A101D.01:
检测项目:稳态温度湿度偏压寿命试验
检测对象:集成电路
JESD22-A110E.01:2021
高加速温湿度应力试验
检测项目:高加速温湿度应力试验
检测对象:集成电路
JESD22-A118B.01:2021
无偏压高加速温湿度试验
检测项目:无偏压高加速温湿度应力试验
检测对象:集成电路
JESD22-A104F.01:2023
温度循环试验
检测项目:温度循环试验
检测对象:集成电路
JESD22-A105D:2020
功率温度循环试验
检测项目:功率温度循环试验
检测对象:集成电路
JESD22-A103E.01:2021
高温存储寿命试验
检测项目:高温存储寿命试验
检测对象:集成电路
JESD22-A108G:2022
温度、偏压和寿命试验
检测项目:高温工作寿命试验
检测对象:集成电路
AEC-Q100-008 REV-A July 18, 2003
早期失效率试验
检测项目:早期失效率试验
检测对象:集成电路